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인 라인 색상 관리 씨스템 장점
인 라인 색상 관리 씨스템 (IN-LINE COLOR CONTROL SYSTEM, ERX50/55) 색상이 부여된 제품이 연속적으로 제품을 생산하고 있는 생산 라인에 서 비 접촉 색상 관리 장치인 측색기를 이용하여 색상 관리 솔루션을 확립하여 원하는 품질 및 색상을 일정하게 유지 하는 것은 생산의 기 본적인 사항으로 고품질의 제품을 생산하기 위해서는 색상 관리의 최 적화를 이루어 고객이 원하는 제품을 생산 하여야 한다. 즉 색상이 맞 지 않으면 제품의 품질이 저하 되고 이를 개선하기 위해서는 불필요 한 경비가 소요 된다. 제품이 생산되고 있는 상태에서 비 접촉 상태에서 색상을 측정하고 관리 하기 위해서는 330nm 에서 730nm 까지 1nm 간격으로 색상을 측정하고 분석하는데 적합한 엑스라이트 (X-Rite) ERX 50/반사형 과 ERX55/투과형, 헤이즈를 사용하면 제품의 불합격을 줄임에 따른 품질 향상, 경비절감 그리고 납기단축을 이룰 수 있어 생산성 향상을 이룰 수 있다
ERX50 인 라인 색상 측정 장치
45°:0° 각도(CIE 표준) 방식 생산 기계용 비 접촉식 분광광도계 색상 측정기. 형광제(Optical brighteners)에 의한 자극 포함 및 불포
인 라인 측색의 장점
ERX50의 기능
ERX50은 표준 45°/0° 방식의 인라인 콤팩트 분광광도계형 색차계이다. 샘플 측정 크기는 비접촉 방식으로 직경 10 mm (0.4 인치) 이다
*그림 1 ERX 50 크기
샘플 측정 시 제논 플레시 램프 그리고 데이 라이트에 의해서 생기는 화이트 라이트 그리고 약 1/1000초 동안 45° 원형 라이트 에서 나오는 UV가 불포함 된 빛에 의해서 밝게 빛난다. 샘플의 표면과 직각이 되는 지점 (0° 발광)에서 나오는 반사 빛은 고성능 분광계에서 수집된다(그림 2). 샘플 측정과 동시에 레퍼런스 측정을 하는 듀얼 빔 방식으로 측정 한다 (full dual beam design).
*그림 2: ERX50의 기능 블록
분광광도계에서는 광학적 측정 신호가 수정된 할로그래픽 오목형 그래이팅에 의해서 401개의 파장 신호로 분리되어 401개의 광전자 센서에 의해서 측정 된다. 이 때 정밀도는 1 nm 이다. 측정 시그날은 증폭되어 고성능으로 디지털화 하여 고속 프로세서에 의해서 수정된 반사율 값이 계산 된다. 이러한 401개의 반사율 값 (330nm 에서 730nm 까지)은 모든 일루미넌트와 옵서버 (예를 들면 일루미넌트 D65/10° 옵서버 혹은 일루 미넌트 C / 2° 옵서버) 와 관련된 모든 색체와 관련 된 계산의 기본이 된다. 본 내장된 자동 캘리브레 이션 장치는 최고의 측정 정밀성과 장기간 안정성을 유지 하는데 필요한 자동 파장 캘리브레이션 도 포함 된다. 캘리브레이션은 데이터가 알려진 착색 된 샘플에 의해서 확인 된다. 램프의 UV부분 캘리 브레이션은 내장된 밝게 빛나는 흰색 표준판에 의해서 검증 된다. 이 과정 을 거치면 재현성과 정밀성이 보증된다. ERX50의 콘트롤은 USB를 이용하여 컴퓨터에 의해서 수행 되며 측정 데이터는 컴퓨터로 전송 된다. CAN bus 통신을 사용하기 때문에 컴퓨터와 측정 장치까지의 거리 는 최대 500 미터(1/3 마일) 이다. 빌트 인 광학 씨스템은 외부 조건과 격리되어 있어 안정적인 작동이 보증 된다
적용 Typical Applications
인 라인 ERX50은 비 접촉 색상 측정에 적합한 장치로서 대부분의 경우 연속적안 색상 측정에 사용 된다.
사용 분야
인 라인 ERX50 장치는 다음과 같은 분야에서 성공적으로 사용 된다
ERX50의 장점
정밀한 분광 측정
인라인 측색 장치 모음(Turn key)
인라인 측색 장치는 일반적으로 측색기, 프레임, 소프트웨어 그리고 컴퓨터 까지 일괄 수주 방식 으로 공급 된다(그림 3). 설치 및 서비스도 독일 의 책임 하에 전세계로 수행한다.
인-라인 분광광도계 ERX50
소프트웨어
*그림3: 인-라인 색상 측정 장치 및 폐쇄형 루프식 색상 관리
X-RITE
The GretagMacbeth group supplies
사양 ERX50, EPX, ECX
측색기 ERX50
비 접촉 측색기: 45°/0° 측색, 주변의 빛에 영향을 받지 않고 자동 캘리브레이션 및 측색, 견고한 구조, 초정밀 구조, 빌트-인 서비스 수행.
광원(Illumination) |
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Lamp 1 |
Lamp 2 |
측정(Measurement) |
UV 포함 측정 Spectral measurement area with UV |
정밀도 Spectral resolution (optical !) |
내부 자동제어 절대 파장 정밀도 Absolute wavelength accuracy |
듀얼 빔 Dual beam (sample and reference channel) |
측정 시간 Measurement time |
측정 영역 Measurement area |
측정 거리 Measurement distance (illumination head – sample) |
거리 변경 Distance variation with error dE* < 0,15 |
측정 간격 Measurement interval |
재현성 Reproducibility CIELAB (백색표준 근거 standard deviation for repeated difference measurements of the white standard) |
기차 Interinstrument agreement between ERX50 systems |
12 BCRA 백색 타일 기준 Based on a white tile Average color difference for measurement of the 12 BCRA standards from production average |
크기 Size |
중량 Weight |
보호장치 Protection |
캘리브레이션 Calibration (traceable to PTB) |
컴퓨터 통신 Communication with computer |
측정 데이타 정밀도 Spectral data directly from the measm. head (330nm - 730nm) |
주위 온도 ambient temperature |
전원 장치 Power interface EPX
입력 전원 Input Voltage |
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전력 소모량Power consumption |
측정 헤드 인터페이스 Measurement head interface |
크기 Size approx. |
중량 Weight approx. |
보호장치 Protection |
컴퓨터 인터페이스 Computer interface ECX
입력 전압 Input Voltage |
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전력 소모량Power consumption |
인터페이스 거리 Interface to EPX trough CAN-Bus |
USB 인터페이스 거리 USB interface to computer |
크기 Size approx. |
중량 Weight approx |
보호장치 Protection |