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인 라인 색상 관리 씨스템 장점
인 라인 색상 관리 씨스템 (IN-LINE COLOR CONTROL SYSTEM, ERX50/55) 색상이 부여된 제품이 연속적으로 제품을 생산하고 있는 생산 라인에 서 비 접촉 색상 관리 장치인 측색기를 이용하여 색상 관리 솔루션을 확립하여 원하는 품질 및 색상을 일정하게 유지 하는 것은 생산의 기 본적인 사항으로 고품질의 제품을 생산하기 위해서는 색상 관리의 최 적화를 이루어 고객이 원하는 제품을 생산 하여야 한다. 즉 색상이 맞 지 않으면 제품의 품질이 저하 되고 이를 개선하기 위해서는 불필요 한 경비가 소요 된다. 제품이 생산되고 있는 상태에서 비 접촉 상태에서 색상을 측정하고 관리 하기 위해서는 330nm 에서 730nm 까지 1nm 간격으로 색상을 측정하고 분석하는데 적합한 엑스라이트 (X-Rite) ERX 50/반사형 과 ERX55/투과형, 헤이즈를 사용하면 제품의 불합격을 줄임에 따른 품질 향상, 경비절감 그리고 납기단축을 이룰 수 있어 생산성 향상을 이룰 수 있다
ERX55-비접촉식 투과
투과형 비접촉식 고성능 분광광도계에 의한 색상 측정/관리 및 헤이즈 (haze) 측정 장치.
인라인 색상 측정의 장점
ERX55의 기능
ERX55는 일체형 투과형 인라인 분광광도계로서 색상, 빛의 투과 그리고 헤이즈 측정을 할 수 있다. 샘플은 비접촉 방식으로 기계로부터 26mm, 1 인치, 거리에서 측정 하며 투과 수광부는 샘플로부터 239mm, 9.4인치, 그리고 샘플 끝에서 1000 mm 39인치, 되는 지점에 있다(그림1).
*그림 1 ERX 50 크기
샘플 측정 시 제논 플레시 램프 그리고 데이 라이트에 의해서 생기는 화이트 라이트 그리고 약 1/1000초 동안 45° 원형 라이트 에서 나오는 UV가 불포함 된 빛에 의해서 밝게 빛난다. 샘플의 표면과 직각이 되는 지점 (0° 발광)에서 나오는 반사 빛은 고성능 분광계에서 수집된다(그림 2). 샘플 측정과 동시에 레퍼런스 측정을 하는 듀얼 빔 방식으로 측정 한다 (full dual beam design).
*그림1: ERX55 크기 및 측정거리
샘플은 UV가 포함된 백색광 (제논 플래쉬 램프, 햇빛과 유사)으로 측정 하며 측정 시간은 20ms 이며 샘플 표면에 직각(0°)으로 측정 하여 투과된 빛을 모아 고성능 분광광도계로 이송한다(그림 2) 샘플 측정 시 샘플과 레퍼런스를 동시에 측정하는 듀얼 빔으로 고성능 분광 광도계가 된다.
분광광도계에서는 광학 측정 시그날이 보정된 오목형 그래이팅에서 400개의 서로 다른 파장으로 분리하고 400개의 광전자 센서를 이용하여 측정 한다. 이 때 측정 간격은 1nm이다.
측정 시그날은 증폭되어 고정밀도로 디지털화 된다. 고속 프로세서가 수정된 분광 반사 데이터를 계산하며 이러한 400개 (330 – 730nm)의 반사 데이터는 색차식 계산의 기본이 된다. 이때 D65 광원에서 보는 각은 10° 이다.
자동 캘리브레이션을 보증하기 위해서 ERX55는 리니어 트랙을 장착하여 자동 캘리브레이션을 보증한다.
이 장치는 씨스템의 내부 로 이동하여 측정한다. 그러나 캘리브레이션 하기 위해서 시트 브레잌이 일어나면 전체 설정이 웹 밖으로 이동하여 파킹 위치로 이동한다. 씨스템의 자동 캘리브레이션은 측정치의 정확성과 장기간 재현성을 얻기 위한 자동 파장 캘리브레이션을 수행 한다.
ERX55는 CAN-BUS 통신으로 먼거리 통신에도 문제가 없다.
CAN-bus 시그날이 USB 로 전환되어 일반 컴퓨터도 ESWin 소프트웨어 용으로 사용 할 수 있다. 이 기술은 300m 거리에서도 통신이 가능 하다.
빌트인 광학 장치 격리장치는 외부환경으로 부터 기계를 보호한다..
Typical applications
인라인 분광광도계 ERX55는 비접촉 색상 측정에 사용하며, 특히 투명 그리고 불투명 제품을 연속적 으로 측정하는데 적합하다.
그림 2: ERX55의 설치 예
ERX55의 장점
정밀한 분광 측정
인라인 색상측정 장치
일반적으로 ERX55 인라인 분광광도계는 씨스템 으로 판매된다( 그림 3).
그림3: 인라인 투과 측색 및 헤이즈 측정 구성도
X-RITE
Technical data ERX55
Measurement head ERX55
Robust construction, high accuracy and precision, built-in diagnostics with service memory (remote diagnostics).
Spectral range (UV included) |
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Spectral resolution (optical!) |
Absolute wavelength accuracy with internal automatic control |
Double beam (sample and reference channel) |
Measurement time |
Protection |
Calibration (traceable to PTB, Germany) |
Communication with computer |
Illumination |
Viewing direction |
Measurement area |
Distance from measurement point to sample edge |
Measurement distance (illumination head – sample) |
Measurement distance (sample - transmission receiver) |
Distance variation with error dE* < 0,15 |
Repetition time |
Reproducibility (standard deviation for repeated difference measurements on a hazy plastics sample) |
Inter-instrument agreement between two ERX55(average deviation on a set of selected transparent samples) |
Size with measuring head and C-frame |
Weight excl. traversing beam |
Surrounding temperature |
Input voltage |
Power consumption |
Computer interface |
Traversing beam
The traversing beam will be adjusted to the customers needs. A typical configuration is:
Total dimensions incl. ERX55, cable chain |
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Motion length |
Actuators: 2 limit switches (one on each side) |
Protection |